電子元器件高低溫試驗(yàn)箱
一、電子元器件高低溫試驗(yàn)箱性能:
指氣冷式在室溫20℃,空載時(shí)
規(guī)格型號(hào):HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)
容量:
80升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):400X500X400mm
150升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):500X600X500mm
225升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):600X750X500mm
408升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):600X850X800mm
800升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X800mm
1000升內(nèi)箱尺寸(寬*高*深):1000X1000X1000mm
溫度范圍:
A表示:0℃~+150℃,B表示:-20℃~+150℃,C表示:-40℃~+150℃,
D表示:-60℃~+150℃,E表示:-70℃~+150℃
溫度精度:±0.01℃
溫度波動(dòng)度:±0.5℃
溫度均勻度:±2.0℃
濕度范圍:20%RH~98%RH
濕度精度:±0.1%R.H
濕度波動(dòng)度:±2.0%R.H.
濕度均勻度:±3%R.H.
升溫速率:平均3℃/min(非線性、空載時(shí);從常溫+25℃升至+85℃約20min);可按要求定制非標(biāo)規(guī)格
降溫速度:平均1℃/min(非線性、空載時(shí);從常溫+25℃降至-40℃約65min);可按要求定制非標(biāo)規(guī)格
二、電子元器件高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn):
1.具有極寬的溫度控制范圍從-70到+150℃溫區(qū)選用,可滿足用戶的各種需要。
2.采用*的平衡調(diào)溫方式,可調(diào)節(jié)理想的溫度環(huán)境,具有穩(wěn)定平衡式加熱能力,可進(jìn)行高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。
3.溫度控制采用進(jìn)口程序控制型儀表。
4.本試驗(yàn)箱具有隨溫度的設(shè)定數(shù)值自動(dòng)選擇運(yùn)轉(zhuǎn)制冷回路的機(jī)能,操作簡(jiǎn)單。
5.試驗(yàn)箱內(nèi)溫度設(shè)定采用鍵盤(pán)設(shè)定器,使設(shè)定簡(jiǎn)單易行,儀表具有偏差修正功能,經(jīng)過(guò)調(diào)整可獲得更為準(zhǔn)確的試驗(yàn)條件。
6.試驗(yàn)箱大門(mén)裝有帶燈觀察窗,可方便地觀察試樣品的試驗(yàn)狀態(tài)。
7.具有高溫開(kāi)機(jī)功能,能在箱內(nèi)溫度130℃時(shí)開(kāi)啟冷機(jī)快速降溫,用戶可方便連續(xù)地進(jìn)行高溫、低溫循環(huán)試驗(yàn)。
8.制冷系統(tǒng)中采用冷卻的冷凝方式,使用進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)。
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